1.Integrovaná konstrukce optického metalografického mikroskopu a mikroskopu atomárních sil, výkonné funkce
2.Má zobrazovací funkce optického mikroskopu i mikroskopu atomární síly, přičemž oba mohou pracovat současně, aniž by se navzájem ovlivňovaly
3.Zároveň má funkce optického dvourozměrného měření a trojrozměrného měření mikroskopem atomárních sil
4. Laserová detekční hlava a fáze skenování vzorku jsou integrovány, struktura je velmi stabilní a anti-interference je silná
5. Přesné polohovací zařízení sondy, nastavení vyrovnání laserového bodu je velmi snadné
6. Vzorek pohonu s jednou osou se automaticky přiblíží k sondě vertikálně, takže hrot jehly je snímán kolmo ke vzorku
7. Inteligentní metoda podávání jehly motorem řízené tlakové piezoelektrické keramické automatické detekce chrání sondu a vzorek
8. Ultra-vysoké zvětšení optický polohovací systém pro dosažení přesného umístění sondy a oblasti skenování vzorku
9. Integrovaný uživatelský editor nelineární korekce skeneru, charakterizace nanometrů a přesnost měření lepší než 98 %
Specifikace:
| Pracovní režim | dotykový režim, dotykový režim |
| Volitelný režim | Tření/boční síla, amplituda/fáze, magnetická/elektrostatická síla |
| křivka spektra sil | Křivka síly FZ, křivka RMS-Z |
| Rozsah skenování XY | 50*50um, volitelně 20*20um, 100*100um |
| Rozsah skenování Z | 5um, volitelně 2um, 10um |
| Rozlišení skenování | Horizontální 0,2nm, vertikální 0,05nm |
| Velikost vzorku | Φ≤68 mm, H≤20 mm |
| Ukázka cestování jevištěm | 25*25mm |
| Optický okulár | 10X |
| Optický objektiv | 5X/10X/20X/50X Plán apochromatické cíle |
| Způsob osvětlení | Systém osvětlení LE Kohler |
| Optické ostření | Hrubé manuální ostření |
| Fotoaparát | 5MP CMOS snímač |
| Zobrazit | 10,1palcový plochý displej s funkcí měření související s grafem |
| Rychlost skenování | 0,6Hz-30Hz |
| Úhel skenování | 0-360° |
| Provozní prostředí | Operační systém Windows XP/7/8/10 |
| Komunikační rozhraní | USB 2.0/3.0 |
